基于迭代相位恢复算法的光学元件表面缺陷深度检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510799623.8

申请日：

2025-06-16

公开(公告)号：

CN120823151A

公开(公告)日：

2025-10-21

发明(设计)人：

程鸿胡子敬余保华张天一张芬

申请人：

安徽大学四创电子股份有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区九龙路111号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/60 G01N21/88 G01N21/01

代理机构：

合肥金律专利代理事务所(普通合伙) 34184

代理人：

贾启芳

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-21	公开	公开
2025-11-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250616

共 50 条

[1]

基于迭代振幅-相位恢复算法的图像加密方法 [P].

陈翼翔 ;

汪小刚 .

中国专利 :CN103745427B ,2014-04-23

[2]

基于相位恢复算法的光学多图像认证和加密方法 [P].

汪小刚 ;

魏浩宇 .

中国专利 :CN112765623B ,2021-05-07

[3]

基于相位恢复算法的太赫兹波束相位透镜制造方法及系统 [P].

郝丛静 ;

刘德峰 ;

马庆 ;

李蔚 ;

潘登 .

中国专利 :CN119087664A ,2024-12-06

[4]

基于相位恢复算法的太赫兹波束相位透镜制造方法及系统 [P].

郝丛静 ;

刘德峰 ;

马庆 ;

李蔚 ;

潘登 .

中国专利 :CN119087664B ,2025-11-04

[5]

一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法 [P].

田爱玲 ;

邱啸天 ;

张英鸽 ;

王红军 ;

王春阳 ;

刘雪莲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN110686614A ,2020-01-14

[6]

基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法 [P].

王春阳 ;

崔亚娜 ;

刘雪莲 ;

田爱玲 ;

王红军 .

中国专利 :CN110879229B ,2020-03-13

[7]

基于涡旋光束和相位恢复算法的图像加密方法 [P].

汪小刚 ;

周国泉 ;

戴朝卿 .

中国专利 :CN104376526B ,2015-02-25

[8]

一种基于深度学习的光学元件表面缺陷检测方法 [P].

胡小川 ;

全海洋 ;

徐富超 ;

付韬韬 ;

侯溪 ;

李声 .

中国专利 :CN109934811B ,2019-06-25

[9]

一种基于回转域相位恢复算法的光学多图像认证方法 [P].

隋连升 ;

张笑 .

中国专利 :CN109191538A ,2019-01-11

[10]

一种大口径光学元件表面缺陷检测装置及方法 [P].

陈晓义 ;

王璞 ;

眭越 ;

李成尧 ;

达争尚 .

中国专利 :CN119643586A ,2025-03-18

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