一种光学元件表面与亚表面缺陷的分类提取方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011156457.3

申请日：

2020-10-26

公开(公告)号：

CN112581424A

公开(公告)日：

2021-03-30

发明(设计)人：

刘东孙焕宇王狮凌胡晓波黄梦辉卢岸

申请人：

申请人地址：

310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T713 G06T733 G06K946 G06K938 G06K962 G01N2147 G01N2164 G01N2188 G01N2195

代理机构：

杭州天勤知识产权代理有限公司 33224

代理人：

彭剑;胡红娟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-30	公开	公开
2021-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201026

共 50 条

[1]

光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN201697882U ,2011-01-05

[2]

光学元件亚表面缺陷的检测装置及其方法 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN101819163A ,2010-09-01

[3]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN212059867U ,2020-12-01

[4]

光学元件表面形貌及亚表面缺陷信息的检测方法及其装置 [P].

王红军 ;

吴琳 ;

田爱玲 ;

刘卫国 ;

王大森 ;

朱学亮 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN109916909A ,2019-06-21

[5]

光学元件亚表面缺陷数字全息检测装置 [P].

于瀛洁 ;

伍小燕 ;

涂桥 ;

王驰 .

中国专利 :CN102519976A ,2012-06-27

[6]

一种可同时检测光学元件表面和亚表面缺陷的装置及方法 [P].

孙安玉 ;

李智宏 ;

居冰峰 ;

王传勇 ;

杨筱钰 ;

孙泽青 ;

杜慧林 .

中国专利 :CN109668838B ,2019-04-23

[7]

一种用于光学元件亚表面缺陷检测的装置及方法 [P].

孙安玉 ;

钟皓泽 ;

居冰峰 ;

管凯敏 ;

杨筱钰 ;

陈远流 ;

朱吴乐 .

中国专利 :CN113607750B ,2021-11-05

[8]

一种光学元件亚表面缺陷检测方法及检测系统 [P].

刘勇 .

中国专利 :CN104568982B ,2015-04-29

[9]

大口径光学元件表面缺陷的检测分类方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

黄明 .

中国专利 :CN103105400B ,2013-05-15

[10]

基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法 [P].

王春阳 ;

崔亚娜 ;

刘雪莲 ;

田爱玲 ;

王红军 .

中国专利 :CN110879229B ,2020-03-13

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