测试装置及其探针构造

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220645657.X

申请日：

2012-11-29

公开(公告)号：

CN202929164U

公开(公告)日：

2013-05-08

发明(设计)人：

金永斌府伟

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

翟羽

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-08	授权	授权
2021-11-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20121129 授权公告日:20130508 终止日期:20201129

共 50 条

[1]

同轴测试探针模组及其测试装置 [P].

李定宗 .

中国专利 :CN213689716U ,2021-07-13

[2]

探针及测试装置 [P].

吴俊杰 .

中国专利 :CN211263556U ,2020-08-14

[3]

集成电路测试装置及其测试探针 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN206696394U ,2017-12-01

[4]

探针测试装置 [P].

郭永聪 .

中国专利 :CN212845534U ,2021-03-30

[5]

探针测试装置 [P].

曾长鋆 .

中国专利 :CN207301262U ,2018-05-01

[6]

探针测试装置 [P].

陈祁阳 .

中国专利 :CN210426967U ,2020-04-28

[7]

飞针测试装置及其测试探针 [P].

谭艳萍 ;

王星 ;

翟学涛 ;

杨朝辉 ;

高云峰 .

中国专利 :CN204116399U ,2015-01-21

[8]

PCB板测试装置及其测试探针 [P].

殷方胜 .

中国专利 :CN204347079U ,2015-05-20

[9]

探针卡测试装置 [P].

简涛 ;

陆聪 ;

孙文涛 ;

谢刚刚 ;

陈勇 .

中国专利 :CN221977036U ,2024-11-08

[10]

探针及测试装置 [P].

吴俊杰 .

中国专利 :CN112526178A ,2021-03-19

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