半自动化芯片测试机架

被引:0
申请号
CN202130680721.2
申请日
2021-10-18
公开(公告)号
CN307220755S
公开(公告)日
2022-04-01
发明(设计)人
杨密凯 杨松坤 李斌
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
一种半自动化芯片测试机台及工作方法 [P]. 
杨密凯 ;
杨松坤 ;
李斌 .
中国专利 :CN113820590A ,2021-12-21
[2]
芯片测试方法、自动化测试机和系统 [P]. 
杨明庆 ;
张炜 ;
张君迈 .
中国专利 :CN102967815B ,2013-03-13
[3]
一种半自动化测试工装 [P]. 
张俊堂 ;
方俊勇 ;
嵇杰 ;
方正 ;
李海峰 ;
魏菊 .
中国专利 :CN213875783U ,2021-08-03
[4]
切割机(半自动化) [P]. 
吴修 .
中国专利 :CN306929097S ,2021-11-09
[5]
半自动化焊接机 [P]. 
吴东杨 .
中国专利 :CN305440809S ,2019-11-15
[6]
车床(双轴半自动化) [P]. 
夏小华 .
中国专利 :CN307042227S ,2021-12-31
[7]
自动化芯片测试设备 [P]. 
黄日新 ;
王萌 .
中国专利 :CN304873696S ,2018-11-02
[8]
自动化测试机台 [P]. 
张宇 .
中国专利 :CN303158256S ,2015-04-08
[9]
自动化测试机台 [P]. 
许根夫 .
中国专利 :CN304938897S ,2018-12-11
[10]
装料机(负极材料半自动化) [P]. 
梁清源 ;
高峰 ;
陈景雄 .
中国专利 :CN308747947S ,2024-07-23