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一种半自动化芯片测试机台及工作方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111207665.6
申请日：
2021-10-18
公开(公告)号：
CN113820590A
公开(公告)日：
2021-12-21
发明(设计)人：
杨密凯
杨松坤
李斌
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-07 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211018 |
| 2021-12-21 | 公开 | 公开 |