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一种半自动化芯片测试机台

被引：0
申请号：
CN202122497259.X
申请日：
2021-10-18
公开(公告)号：
CN216209663U
公开(公告)日：
2022-04-05
发明(设计)人：
杨密凯 杨松坤 李斌
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-05 授权 授权
共 50 条
[1]
一种半自动化芯片测试机台及工作方法 [P]. 
杨密凯 ;
杨松坤 ;
李斌 .
中国专利 :CN113820590A ,2021-12-21
[2]
半自动化测试机构 [P]. 
孙丰 .
中国专利 :CN203909194U ,2014-10-29
[3]
一种自动化存储芯片测试机台 [P]. 
杨密凯 .
中国专利 :CN218241317U ,2023-01-06
[4]
一种半自动化测试工装 [P]. 
张俊堂 ;
方俊勇 ;
嵇杰 ;
方正 ;
李海峰 ;
魏菊 .
中国专利 :CN213875783U ,2021-08-03
[5]
一种FPC半自动化测试治具 [P]. 
李国瑞 .
中国专利 :CN207081810U ,2018-03-09
[6]
一种半自动化测试球压装置 [P]. 
柯勇 ;
廖志祥 ;
黄德伟 ;
李柏毅 .
中国专利 :CN223727550U ,2025-12-26
[7]
半自动化穿针机 [P]. 
叶春海 ;
周艳 ;
颜勇飞 ;
刘媛 .
中国专利 :CN223281036U ,2025-08-29
[8]
一种光辐射通量自动化测试机台 [P]. 
吴常林 ;
梁祖荣 ;
翁巨贤 ;
刘勇江 .
中国专利 :CN212779863U ,2021-03-23
[9]
半导体自动化测试机台 [P]. 
陈磊 .
中国专利 :CN113484715B ,2021-10-08
[10]
自动化晶圆测试机台 [P]. 
许根夫 .
中国专利 :CN208284457U ,2018-12-25
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