一种FPGA逻辑资源的内建自测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910078845.1

申请日：

2009-03-05

公开(公告)号：

CN101515020A

公开(公告)日：

2009-08-26

发明(设计)人：

张志权文治平陈雷王慜张帆周涛

申请人：

申请人地址：

100076北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

中国航天科技专利中心

代理人：

安丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-05-04	授权	授权
2009-08-26	公开	公开

共 50 条

[1]

一种逻辑内建自测试方法及电路 [P].

张涛洪 ;

伏俊明 ;

全宇 ;

王煜文 .

中国专利 :CN120832281A ,2025-10-24

[2]

逻辑内建自测试系统 [P].

唐飞 .

中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11

[3]

一种FPGA输入输出模块的内建自测试方法 [P].

张志权 ;

文治平 ;

陈雷 ;

李学武 ;

储鹏 ;

张彦龙 .

中国专利 :CN101551439B ,2009-10-07

[4]

一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法 [P].

谭腾飞 ;

纪璐璐 .

中国专利 :CN114360622A ,2022-04-15

[5]

内建自测试引擎 [P].

王燕 ;

洪亮 .

中国专利 :CN109102838A ,2018-12-28

[6]

逻辑内建自测试的故障模拟方法 [P].

石康康 .

中国专利 :CN118332989A ,2024-07-12

[7]

内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN104751896A ,2015-07-01

[8]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[9]

具有内建自测试逻辑的测试装置及方法 [P].

王丹 ;

范然然 ;

朱肖 ;

常仲元 ;

刘新 .

中国专利 :CN112925682A ,2021-06-08

[10]

具有内建自测试逻辑的测试装置及方法 [P].

王丹 ;

范然然 ;

朱肖 ;

常仲元 ;

刘新 .

中国专利 :CN112925682B ,2024-02-02

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