内建自测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510189284.8

申请日：

2015-04-17

公开(公告)号：

CN104751896A

公开(公告)日：

2015-07-01

发明(设计)人：

李鸣

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

郑玮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-27	授权	授权
2015-07-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101618651245 IPC(主分类):G11C 29/12 专利申请号:2015101892848 申请日:20150417
2015-07-01	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[2]

内建自测试引擎 [P].

王燕 ;

洪亮 .

中国专利 :CN109102838A ,2018-12-28

[3]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[4]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[5]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

[6]

存储器内建自测试方法 [P].

杨修 ;

唐杜娟 .

中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07

[7]

内建自测试方法和设备 [P].

孙圆圆 ;

王佳 .

中国专利 :CN117766007A ,2024-03-26

[8]

逻辑内建自测试系统 [P].

唐飞 .

中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11

[9]

存储器芯片内建自测试电路装置 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN208655247U ,2019-03-26

[10]

存储器内建自测试电路及其操作方法 [P].

D·I·哈纳甘迪 ;

I·阿尔索夫斯基 ;

M·A·齐格霍弗尔 ;

V·H·奇卡诺斯凯 ;

K·R·罗德哈 .

:CN111798912B ,2024-04-05

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