内建自测试方法和设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211137932.1
申请日
2022-09-19
公开(公告)号
CN117766007A
公开(公告)日
2024-03-26
发明(设计)人
孙圆圆 王佳
申请人
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
G11C29/08
IPC分类号
G11C29/56
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
内建自测试电路 [P]. 
李鸣 .
中国专利 :CN104751896A ,2015-07-01
[2]
内建自测试引擎 [P]. 
王燕 ;
洪亮 .
中国专利 :CN109102838A ,2018-12-28
[3]
一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 ;
张瑞 .
中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10
[4]
用于内建自测试的方法和设备 [P]. 
陆明 ;
姜培 ;
马建旭 ;
白睿 ;
陈学峰 ;
王俊成 .
中国专利 :CN110446935B ,2019-11-12
[5]
存储器、内建自测试方法和测试系统 [P]. 
张瑞 .
中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03
[6]
存储器内建自测试方法 [P]. 
杨修 ;
唐杜娟 .
中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07
[7]
存储器、内建自测试方法和测试系统 [P]. 
张瑞 .
中国专利 :CN118824336A ,2024-10-22
[8]
逻辑内建自测试系统 [P]. 
唐飞 .
中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11
[9]
存储器、内建自测试方法和电子设备 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 .
中国专利 :CN119296622A ,2025-01-10
[10]
内建自测试方法、内建自测试装置及半导体存储器 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 ;
陈继兴 .
中国专利 :CN117766008A ,2024-03-26