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内建自测试方法和设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202211137932.1
申请日
:
2022-09-19
公开(公告)号
:
CN117766007A
公开(公告)日
:
2024-03-26
发明(设计)人
:
孙圆圆
王佳
申请人
:
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
:
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
:
G11C29/08
IPC分类号
:
G11C29/56
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-26
公开
公开
2024-04-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/08申请日:20220919
共 50 条
[1]
内建自测试电路
[P].
李鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李鸣
.
中国专利
:CN104751896A
,2015-07-01
[2]
内建自测试引擎
[P].
王燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王燕
;
洪亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪亮
.
中国专利
:CN109102838A
,2018-12-28
[3]
一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器
[P].
孙圆圆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
孙圆圆
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王佳
;
张瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张瑞
.
中国专利
:CN119296623A
,2025-01-10
[4]
用于内建自测试的方法和设备
[P].
陆明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆明
;
姜培
论文数:
0
引用数:
0
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0
姜培
;
马建旭
论文数:
0
引用数:
0
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0
马建旭
;
白睿
论文数:
0
引用数:
0
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0
白睿
;
陈学峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈学峰
;
王俊成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王俊成
.
中国专利
:CN110446935B
,2019-11-12
[5]
存储器、内建自测试方法和测试系统
[P].
张瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张瑞
.
中国专利
:CN118824336B
,2025-10-03
[6]
存储器内建自测试方法
[P].
杨修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨修
;
唐杜娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐杜娟
.
中国专利
:CN101339811A
,2009-01-07
[7]
存储器、内建自测试方法和测试系统
[P].
张瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张瑞
.
中国专利
:CN118824336A
,2024-10-22
[8]
逻辑内建自测试系统
[P].
唐飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐飞
.
中国专利
:CN102565685A
,2012-07-11
[9]
存储器、内建自测试方法和电子设备
[P].
孙圆圆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
孙圆圆
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王佳
.
中国专利
:CN119296622A
,2025-01-10
[10]
内建自测试方法、内建自测试装置及半导体存储器
[P].
孙圆圆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
孙圆圆
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王佳
;
陈继兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
陈继兴
.
中国专利
:CN117766008A
,2024-03-26
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