III-V族半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201180015070.9
申请日
2011-03-23
公开(公告)号
CN102822944B
公开(公告)日
2012-12-12
发明(设计)人
埃德·林多 尚塔尔·艾尔纳 R·贝尔特拉姆 兰詹·达塔 苏巴实·马哈詹
申请人
申请人地址
法国伯尔宁
IPC主分类号
H01L21203
IPC分类号
H01L21205 H01L2102
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
吕俊刚;张旭东
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
III-V族半导体直流变压器及其形成方法 [P]. 
郭磊 ;
赵东晶 .
中国专利 :CN103378184A ,2013-10-30
[2]
具有减少的凹坑缺陷的III-V半导体结构及其形成方法 [P]. 
C·菲盖 ;
E·林多 ;
P·托马西尼 .
中国专利 :CN103370453A ,2013-10-23
[3]
具有减少的凹坑缺陷的III-V半导体结构及其形成方法 [P]. 
C·菲盖 ;
E·林多 ;
P·托马西尼 .
中国专利 :CN108251890A ,2018-07-06
[4]
制造III-V族半导体装置的互连件的方法及III-V族半导体装置 [P]. 
张翼 ;
林岳钦 ;
蔡明谚 ;
张博盛 .
中国专利 :CN112563191A ,2021-03-26
[5]
制造III-V族半导体装置的互连件的方法及III-V族半导体装置 [P]. 
张翼 ;
林岳钦 ;
蔡明谚 ;
张博盛 .
中国专利 :CN112563191B ,2024-05-28
[6]
包括边缘终端结构的III-V半导体器件及其形成方法 [P]. 
B·贝克鲁特 .
中国专利 :CN110931546A ,2020-03-27
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
郑二虎 .
中国专利 :CN114628488A ,2022-06-14
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
胡连峰 .
中国专利 :CN112018241A ,2020-12-01
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
胡连峰 .
中国专利 :CN112018241B ,2024-12-06
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
潘世荣 ;
林纪光 .
中国专利 :CN119133082A ,2024-12-13