一种多因子耦合电缆老化试验系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410211614.4

申请日：

2014-05-19

公开(公告)号：

CN103983563B

公开(公告)日：

2014-08-13

发明(设计)人：

张孟仪乌晓燕李玉鸣钟志民

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区田林路888弄6号楼

IPC主分类号：

G01N1700

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所 31219

代理人：

叶琦玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-01	授权	授权
2014-11-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101588322862 IPC(主分类):G01N 17/00 专利申请号:2014102116144 申请日:20140519
2014-08-13	公开	公开
2022-08-12	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01N 17/00 登记号:Y2022310000147 登记生效日:20220726 出质人:国核电站运行服务技术有限公司质权人:中国建设银行股份有限公司上海徐汇支行发明名称:一种多因子耦合电缆老化试验系统申请日:20140519 授权公告日:20160601

共 50 条

[1]

一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法 [P].

张智敏 ;

郝艳捧 ;

彭家豪 ;

阳林 ;

高超 ;

周福升 ;

王国利 ;

李立浧 .

中国专利 :CN110608995A ,2019-12-24

[2]

一种O形密封圈多因子老化试验平台 [P].

张智敏 ;

郝艳捧 ;

彭家豪 ;

阳林 ;

高超 ;

周福升 ;

王国利 ;

李立浧 .

中国专利 :CN211292499U ,2020-08-18

[3]

一种三效耦合老化试验系统 [P].

张健 ;

滕越 ;

王若民 ;

缪春辉 ;

方振邦 ;

华雪莹 ;

杨洋 ;

陈鹏 .

中国专利 :CN114062611A ,2022-02-18

[4]

一种多因素耦合电缆加速老化系统 [P].

张孟仪 ;

乌晓燕 ;

李玉鸣 ;

钟志民 .

中国专利 :CN203941086U ,2014-11-12

[5]

电缆老化试验密封结构 [P].

冯海丽 .

中国专利 :CN205809204U ,2016-12-14

[6]

一种电缆老化试验模拟接头 [P].

杨定光 ;

田军明 ;

詹红生 ;

马玉珠 ;

陈勇慎 ;

赵霞 ;

王伟 ;

孙云川 ;

王浩兵 .

中国专利 :CN209356544U ,2019-09-06

[7]

一种电缆老化试验装置 [P].

赵晋浩 .

中国专利 :CN222337240U ,2025-01-10

[8]

一种电缆受潮老化试验平台 [P].

王录亮 ;

符方达 ;

全业生 ;

王晨东 ;

王思捷 .

中国专利 :CN112082850A ,2020-12-15

[9]

一种电缆老化试验箱 [P].

肖反修 ;

李红兵 ;

袁长宝 ;

李明 ;

王宝祥 .

中国专利 :CN212658602U ,2021-03-05

[10]

一种电缆老化试验设备 [P].

骆蜜 ;

关启聪 ;

周岗华 ;

樊玉广 ;

商益诚 ;

胡伟 ;

韦文英 ;

钟波 ;

佘祥震 ;

陈丽洁 ;

韦微 ;

谭凤随 ;

罗宇 ;

黎宝成 .

中国专利 :CN220552920U ,2024-03-01

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