测试探针及探针座

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910128265.9

申请日：

2009-03-24

公开(公告)号：

CN101846695A

公开(公告)日：

2010-09-29

发明(设计)人：

陈家进

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

周国城

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-09-29	公开	公开
2012-06-27	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101389526481 IPC(主分类):G01R 1/073 专利申请号:2009101282659 公开日:20100929
2010-11-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101016485456 IPC(主分类):G01R 1/073 专利申请号:2009101282659 申请日:20090324

共 50 条

[1]

测试探针及探针座 [P].

陈家进 .

中国专利 :CN101813711B ,2010-08-25

[2]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN308981361S ,2024-12-03

[3]

射频测试座及测试探针 [P].

郭钜添 .

中国专利 :CN106662612B ,2017-05-10

[4]

测试探针 [P].

徐波 ;

陈建明 .

中国专利 :CN308657336S ,2024-05-28

[5]

测试探针 [P].

刘海燕 .

中国专利 :CN307705019S ,2022-12-02

[6]

芯片测试探针座 [P].

李金龙 ;

吴后强 .

中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29

[7]

测试探针 [P].

徐波 ;

陈建明 .

中国专利 :CN308636202S ,2024-05-14

[8]

测试探针 [P].

徐波 ;

陈建明 .

中国专利 :CN308636201S ,2024-05-14

[9]

测试探针 [P].

陈艳华 .

中国专利 :CN307818159S ,2023-01-31

[10]

测试探针座结构 [P].

呙昇华 .

中国专利 :CN113552393A ,2021-10-26

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