多通道flash芯片测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201822116678.2
申请日
2018-12-17
公开(公告)号
CN209248512U
公开(公告)日
2019-08-13
发明(设计)人
胡小明
申请人
申请人地址
314500 浙江省嘉兴市桐乡市凤鸣街道同胜路320号
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367
代理人
张瑜
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多通道电流测试装置 [P]. 
卢健强 .
中国专利 :CN222189426U ,2024-12-17
[2]
多通道射频芯片测试装置以及测试方法 [P]. 
李健均 ;
王雪 ;
彭恒 ;
杨昆明 ;
王日炎 .
中国专利 :CN114355152A ,2022-04-15
[3]
多芯片联合测试装置 [P]. 
张松普 ;
殷绍中 ;
陈江鹏 .
中国专利 :CN202066944U ,2011-12-07
[4]
芯片测试装置 [P]. 
王锐 ;
夏群 .
中国专利 :CN203811771U ,2014-09-03
[5]
多通道安规测试装置 [P]. 
邱晓民 ;
孙忠锋 .
中国专利 :CN215116715U ,2021-12-10
[6]
多通道电池噪声测试装置 [P]. 
杨权龙 .
中国专利 :CN211374999U ,2020-08-28
[7]
多通道温场测试装置 [P]. 
徐永达 ;
姚磊 ;
伍游 ;
葛蔷 .
中国专利 :CN207472435U ,2018-06-08
[8]
多通道联动脂肪测试装置 [P]. 
康丽洁 ;
聂云宸 ;
林子芳 ;
章明 .
中国专利 :CN218382688U ,2023-01-24
[9]
LPDDR芯片测试装置 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN214068354U ,2021-08-27
[10]
多通道电流测试装置 [P]. 
卢健强 .
中国专利 :CN118393314A ,2024-07-26