多芯片联合测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120172298.6

申请日：

2011-05-26

公开(公告)号：

CN202066944U

公开(公告)日：

2011-12-07

发明(设计)人：

张松普殷绍中陈江鹏

申请人：

申请人地址：

215200 江苏省苏州市吴江经济开发区江兴东路1688号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

翟羽;孙佳胤

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101671107819 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2011201722986 申请日:20110526 授权公告日:20111207 终止日期:20150526
2011-12-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种多芯片测试装置 [P].

杨振声 .

中国专利 :CN216449687U ,2022-05-06

[2]

芯片测试装置 [P].

林源记 ;

谢志宏 .

中国专利 :CN209606569U ,2019-11-08

[3]

eMCP芯片的测试装置 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337933U ,2025-01-10

[4]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[5]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

[6]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[7]

一种芯片测试装置 [P].

蒋卫兵 ;

王坚 .

中国专利 :CN209342871U ,2019-09-03

[8]

多通道flash芯片测试装置 [P].

胡小明 .

中国专利 :CN209248512U ,2019-08-13

[9]

指纹芯片测试装置 [P].

鲍军其 ;

刘治震 .

中国专利 :CN207268768U ,2018-04-24

[10]

LPDDR芯片测试装置 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN214068354U ,2021-08-27

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