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一种多芯片测试装置

被引：0
申请号：
CN202122799873.1
申请日：
2021-11-16
公开(公告)号：
CN216449687U
公开(公告)日：
2022-05-06
发明(设计)人：
杨振声
申请人：
申请人地址：
401420 重庆市綦江区古南街道金福大道57号5幢
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239
代理人：
杨佳丽
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-05-06 授权 授权
共 50 条
[1]
一种多芯片颗粒测试装置 [P]. 
李锦光 .
中国专利 :CN212542371U ,2021-02-12
[2]
多芯片联合测试装置 [P]. 
张松普 ;
殷绍中 ;
陈江鹏 .
中国专利 :CN202066944U ,2011-12-07
[3]
一种多芯片测试装置 [P]. 
林仲康 ;
石浩 ;
张喆 .
中国专利 :CN212301769U ,2021-01-05
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
郭观水 ;
刘志赟 .
中国专利 :CN210465602U ,2020-05-05
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
王耀 .
中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
李晓龙 ;
王连生 ;
赵荣杰 .
中国专利 :CN209148833U ,2019-07-23
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
蒋卫兵 ;
王坚 .
中国专利 :CN209342871U ,2019-09-03
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