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一种芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821402329.0
申请日：
2018-08-29
公开(公告)号：
CN209148833U
公开(公告)日：
2019-07-23
发明(设计)人：
李晓龙
王连生
赵荣杰
申请人：
申请人地址：
100011 北京市东城区安外西滨河路22号神华大厦
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012
代理人：
崔华
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-07-23 | 授权 | 授权 |