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一种芯片测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821792106.X
申请日：
2018-11-01
公开(公告)号：
CN209542773U
公开(公告)日：
2019-10-25
发明(设计)人：
刘方远 林爱军 闫骏驰
申请人：
申请人地址：
210000 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204
代理人：
吴海燕
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-10-25 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试装置及方法 [P]. 
蒋书波 ;
刘方远 ;
陈路 .
中国专利 :CN109342928B ,2019-02-15
[2]
一种芯片测试装置 [P]. 
李晓龙 ;
王连生 ;
赵荣杰 .
中国专利 :CN209148833U ,2019-07-23
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘净月 ;
庞明奇 ;
赵鹏 ;
刘路扬 ;
陈波 ;
杨景阳 .
中国专利 :CN207081752U ,2018-03-09
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李克贵 ;
何建军 ;
杨飞瑶 .
中国专利 :CN222762201U ,2025-04-15
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