芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201822130894.2

申请日：

2018-12-18

公开(公告)号：

CN209606569U

公开(公告)日：

2019-11-08

发明(设计)人：

林源记谢志宏

申请人：

申请人地址：

中国台湾苗粟县头份市中正一路173巷29号1楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

王玉双;李岩

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-08	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 .

中国专利 :CN220650739U ,2024-03-22

[2]

芯片测试装置 [P].

熊凯 ;

文亚东 ;

辜诗涛 ;

张亦锋 ;

袁俊 .

中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24

[3]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[4]

芯片测试装置 [P].

沈琦崧 ;

余玉龙 .

中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15

[5]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[6]

芯片测试装置 [P].

吴骁 .

中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05

[7]

芯片测试装置 [P].

杨辉 ;

谢磊 .

中国专利 :CN209432864U ,2019-09-24

[8]

芯片测试装置 [P].

王宸星 ;

刘婧 ;

朱月月 ;

朱伟强 ;

韩婷婷 ;

田密 ;

李志坚 .

中国专利 :CN220983345U ,2024-05-17

[9]

芯片测试装置 [P].

李卫彤 ;

陈荣 ;

张欢欢 ;

朱小龙 .

中国专利 :CN217360169U ,2022-09-02

[10]

芯片测试装置 [P].

赖俊生 .

中国专利 :CN223377441U ,2025-09-23

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