芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201822274293.9

申请日：

2018-12-29

公开(公告)号：

CN209432864U

公开(公告)日：

2019-09-24

发明(设计)人：

杨辉谢磊

申请人：

申请人地址：

201799 上海市青浦区胜利路888号1幢一层东侧、20幢

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R118

代理机构：

上海弼兴律师事务所 31283

代理人：

薛琦;杨东明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-24	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

熊凯 ;

文亚东 ;

辜诗涛 ;

张亦锋 ;

袁俊 .

中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24

[2]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[3]

芯片测试装置 [P].

沈琦崧 ;

余玉龙 .

中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15

[4]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[5]

芯片测试装置 [P].

吴骁 .

中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05

[6]

芯片测试装置 [P].

王宸星 ;

刘婧 ;

朱月月 ;

朱伟强 ;

韩婷婷 ;

田密 ;

李志坚 .

中国专利 :CN220983345U ,2024-05-17

[7]

芯片测试装置 [P].

李卫彤 ;

陈荣 ;

张欢欢 ;

朱小龙 .

中国专利 :CN217360169U ,2022-09-02

[8]

芯片测试装置 [P].

赖俊生 .

中国专利 :CN223377441U ,2025-09-23

[9]

芯片测试装置 [P].

朱玥琦 ;

武恒文 ;

朱捷 .

中国专利 :CN215007530U ,2021-12-03

[10]

芯片测试装置 [P].

王锐 ;

夏群 .

中国专利 :CN203811771U ,2014-09-03

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