检测方法、检测装置、电子装置及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010490317.3
申请日
2020-06-02
公开(公告)号
CN111709921B
公开(公告)日
2020-09-25
发明(设计)人
喻继承
申请人
申请人地址
401120 重庆市渝北区玉峰山镇玉龙大道188号
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T790 G01J346 G01V810
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
唐双
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
检测方法、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
彭冬炜 .
中国专利 :CN113556533A ,2021-10-26
[2]
检测方法、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
彭冬炜 .
中国专利 :CN113556533B ,2025-01-07
[3]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477B ,2025-09-26
[4]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114764764A ,2022-07-19
[5]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477A ,2022-07-01
[6]
检测装置、检测方法及计算机可读存储介质 [P]. 
王雅雄 ;
邓杨春 ;
丁卫涛 .
中国专利 :CN111736376A ,2020-10-02
[7]
检测方法、检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
胡正东 ;
陈晶 .
中国专利 :CN113538337B ,2024-02-27
[8]
检测方法、检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
关姝 ;
王卉 .
中国专利 :CN111757097A ,2020-10-09
[9]
检测方法、检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
胡正东 ;
陈晶 .
中国专利 :CN113538337A ,2021-10-22
[10]
瑕疵检测方法、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
林忠亿 .
中国专利 :CN111915549A ,2020-11-10