学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011613567.8
申请日：
2020-12-30
公开(公告)号：
CN114691477B
公开(公告)日：
2025-09-26
发明(设计)人：
蔡东佐 郭锦斌 林子甄 简士超
申请人：
富泰华工业（深圳）有限公司 鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址：
518109 广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(Ⅰ段)
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/766 G06V10/764 G06V10/774
代理机构：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人：
常云敏
法律状态：
授权
国省代码：
广东省 深圳市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-26 授权 授权
共 50 条
[1]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114764764A ,2022-07-19
[2]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477A ,2022-07-01
[3]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
肖光曦 .
中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11
[4]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
原进良 ;
曹沿松 ;
纪其乐 .
中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27
[5]
缺陷检测方法、电子装置、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
李勇军 ;
朱琦 ;
杨光 .
中国专利 :CN113409317B ,2021-09-17
[6]
缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
王倩 ;
宋林东 .
中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12
[7]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
冯豪文 ;
郭师峰 ;
吕高龙 ;
陈丹 ;
冯伟 .
中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22
[8]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
陈振州 ;
江少波 ;
时广军 .
中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02
[9]
缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
杨延竹 ;
彭明 ;
张旭堂 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN113628161B ,2024-09-06
[10]
检测方法、检测装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
喻继承 .
中国专利 :CN111709921B ,2020-09-25
12345