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缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010293623.8
申请日：
2020-04-15
公开(公告)号：
CN111524107A
公开(公告)日：
2020-08-11
发明(设计)人：
肖光曦
申请人：
申请人地址：
401120 重庆市渝北区玉峰山镇玉龙大道188号
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06T711 G06T7136 G06T790
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
李岩
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-09-04 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200415
2020-08-11 公开 公开
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
原进良 ;
曹沿松 ;
纪其乐 .
中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
冯豪文 ;
郭师峰 ;
吕高龙 ;
陈丹 ;
冯伟 .
中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22
[3]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
陈振州 ;
江少波 ;
时广军 .
中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02
[4]
缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
王倩 ;
宋林东 .
中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12
[5]
缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质 [P]. 
刘新辉 .
中国专利 :CN113066043A ,2021-07-02
[6]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
郭一川 ;
路元元 ;
李昭月 ;
柴栋 ;
王洪 .
中国专利 :CN113646801B ,2024-04-02
[7]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
郭一川 ;
路元元 ;
李昭月 ;
柴栋 ;
王洪 .
中国专利 :CN113646801A ,2021-11-12
[8]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114764764A ,2022-07-19
[9]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477A ,2022-07-01
[10]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477B ,2025-09-26
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