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缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110586585.X
申请日：
2021-05-27
公开(公告)号：
CN113536894A
公开(公告)日：
2021-10-22
发明(设计)人：
冯豪文 郭师峰 吕高龙 陈丹 冯伟
申请人：
申请人地址：
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
IPC主分类号：
G06K900
IPC分类号：
G06N2000 G01N2944
代理机构：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人：
黎坚怡
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-11-09 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/00 申请日:20210527
2021-10-22 公开 公开
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
陈振州 ;
江少波 ;
时广军 .
中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
肖光曦 .
中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11
[3]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
原进良 ;
曹沿松 ;
纪其乐 .
中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27
[4]
缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
王倩 ;
宋林东 .
中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12
[5]
缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
王家霈 .
中国专利 :CN117764945A ,2024-03-26
[6]
缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
杨延竹 ;
彭明 ;
张旭堂 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN113628161B ,2024-09-06
[7]
缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
杨延竹 ;
彭明 ;
张旭堂 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN113628161A ,2021-11-09
[8]
缺陷检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质 [P]. 
唐高杨 ;
高瞻宇 .
中国专利 :CN120219272A ,2025-06-27
[9]
缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
谢阳 .
中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12
[10]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03
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