缺陷检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311805421.7

申请日：

2023-12-25

公开(公告)号：

CN120219272A

公开(公告)日：

2025-06-27

发明(设计)人：

唐高杨高瞻宇

申请人：

TCL科技集团股份有限公司

申请人地址：

516000 广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/11 G06V10/74 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82 G06V10/26

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

吴金

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-27	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

陈振州 ;

江少波 ;

时广军 .

中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02

[4]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王楠 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31

[6]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24

[7]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张建书 ;

何水源 ;

贺继石 ;

刘枢 ;

沈小勇 ;

吕江波 .

中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19

[8]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张才明 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119399183A ,2025-02-07

[9]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

蔡淳昊 ;

夏舟 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

蔡淳昊 ;

夏舟 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118608521B ,2024-11-26

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