缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110763937.4

申请日：

2021-07-06

公开(公告)号：

CN113628161A

公开(公告)日：

2021-11-09

发明(设计)人：

杨延竹彭明张旭堂张华于波

申请人：

申请人地址：

518064 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南环路46号留学生创业大厦二期2层南区

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7136 G06T7194

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

洪铭福

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-09	公开	公开
2021-11-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210706

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

杨延竹 ;

彭明 ;

张旭堂 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN113628161B ,2024-09-06

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P].

肖光曦 .

中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P].

原进良 ;

曹沿松 ;

纪其乐 .

中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27

[7]

缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质 [P].

刘新辉 .

中国专利 :CN113066043A ,2021-07-02

[8]

缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

杨连报 ;

汪小亮 ;

张明 ;

石立伟 ;

苏永生 ;

朱爱华 ;

邢佳 ;

胡志群 .

中国专利 :CN114897836A ,2022-08-12

[9]

球形外壳缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

孙高磊 ;

吴丰礼 ;

杨双保 ;

李相前 ;

张文刚 ;

梅能华 .

中国专利 :CN109142366A ,2019-01-04

[10]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

陈振州 ;

江少波 ;

时广军 .

中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02

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