缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010740667.0

申请日：

2020-07-28

公开(公告)号：

CN111882541A

公开(公告)日：

2020-11-03

发明(设计)人：

朱姗姗彭奕文王佳

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市黄埔区南翔二路72号5栋412房

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T712

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

张小容

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-03	公开	公开
2020-11-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200728

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12

[2]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张建书 ;

何水源 ;

贺继石 ;

刘枢 ;

沈小勇 ;

吕江波 .

中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19

[3]

缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

杨延竹 ;

彭明 ;

张旭堂 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN113628161B ,2024-09-06

[4]

缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

杨延竹 ;

彭明 ;

张旭堂 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN113628161A ,2021-11-09

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[6]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴凯 ;

刘阿灶 ;

李宗缘 ;

王鑫光 ;

姚飙 ;

刘斌 ;

严云飞 .

中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12

[7]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[8]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

何兆铭 ;

毕海 ;

段江伟 ;

汪伟 ;

杨万里 .

中国专利 :CN114235759B ,2022-03-25

[10]

缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

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