缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210174486.5

申请日：

2022-02-25

公开(公告)号：

CN114235759B

公开(公告)日：

2022-03-25

发明(设计)人：

何兆铭毕海段江伟汪伟杨万里

申请人：

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

IPC主分类号：

G01N2163

IPC分类号：

G01N2101 H01L2166

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

熊海武

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-14	授权	授权
2022-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/63 申请日:20220225
2022-03-25	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴凯 ;

刘阿灶 ;

李宗缘 ;

王鑫光 ;

姚飙 ;

刘斌 ;

严云飞 .

中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[5]

缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

[6]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[7]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[8]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

张殿斌 ;

张保磊 ;

王锋 ;

宋广生 .

中国专利 :CN117593259A ,2024-02-23

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

詹望 .

中国专利 :CN118485613A ,2024-08-13

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12

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