缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311589487.7

申请日：

2023-11-27

公开(公告)号：

CN117314895B

公开(公告)日：

2024-03-12

发明(设计)人：

吴雨培谢阳

申请人：

北京阿丘科技有限公司

申请人地址：

100080 北京市海淀区上地信息路7号3层18-2

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T5/60 G06T5/77 G06T5/90 G06T5/50 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

张睿

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231127
2024-03-12	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

蒋焘 .

中国专利 :CN111583223A ,2020-08-25

[2]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[3]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[4]

钢卷塌卷缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质 [P].

曾雪峰 ;

朱俸泽 ;

陈仁 ;

谭胜虎 .

中国专利 :CN119919336A ,2025-05-02

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[6]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03

[7]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴凯 ;

刘阿灶 ;

李宗缘 ;

王鑫光 ;

姚飙 ;

刘斌 ;

严云飞 .

中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12

[8]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

何兆铭 ;

毕海 ;

段江伟 ;

汪伟 ;

杨万里 .

中国专利 :CN114235759B ,2022-03-25

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