缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311482097.X

申请日：

2023-11-08

公开(公告)号：

CN117593259A

公开(公告)日：

2024-02-23

发明(设计)人：

张殿斌张保磊王锋宋广生

申请人：

北京华夏视科技术股份有限公司

申请人地址：

100195 北京市海淀区北坞村路23号北坞创新园中区5号楼（77号楼）

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/136 G06T7/13 G06T7/62 G06T7/155

代理机构：

武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225

代理人：

刘志荣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231108
2024-02-23	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴凯 ;

刘阿灶 ;

李宗缘 ;

王鑫光 ;

姚飙 ;

刘斌 ;

严云飞 .

中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[5]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

何兆铭 ;

毕海 ;

段江伟 ;

汪伟 ;

杨万里 .

中国专利 :CN114235759B ,2022-03-25

[6]

缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

[7]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[8]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

詹望 .

中国专利 :CN118485613A ,2024-08-13

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12

← 1 2 3 4 5 →