测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011565700.7
申请日
2020-12-25
公开(公告)号
CN112685296A
公开(公告)日
2021-04-20
发明(设计)人
王丹 柳宁一 张友平 杨博
申请人
申请人地址
210000 江苏省南京市雨花台区凤台南路146号天合广场1幢1501室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F9455
代理机构
成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224
代理人
王霞
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 .
中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16
[2]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱捷 .
中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02
[5]
资源测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
陈立 ;
蒋珺 ;
汪承佳 .
中国专利 :CN109471805B ,2019-03-15
[6]
测试执行方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘成双 .
中国专利 :CN112988558B ,2024-09-17
[7]
测试执行方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘成双 .
中国专利 :CN112988558A ,2021-06-18
[8]
代码测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
周羽奇 .
中国专利 :CN109446078A ,2019-03-08
[9]
代码测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱智佳 .
中国专利 :CN114924947A ,2022-08-19
[10]
组件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
伍露波 ;
陈建波 ;
黎杨俊 ;
洪隆樟 ;
王恒胜 ;
李磊磊 .
中国专利 :CN118152281A ,2024-06-07