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组件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410265464.9
申请日：
2024-03-08
公开(公告)号：
CN118152281A
公开(公告)日：
2024-06-07
发明(设计)人：
伍露波 陈建波 黎杨俊 洪隆樟 王恒胜 李磊磊
申请人：
深圳乐信软件技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区粤海街道科苑南路3099号中国储能大厦第24层
IPC主分类号：
G06F11/36
IPC分类号：
代理机构：
深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙) 44347
代理人：
高杰
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-06-07 公开 公开
2024-06-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240308
共 50 条
[1]
组件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈建波 ;
李磊磊 ;
洪隆樟 ;
黎杨俊 .
中国专利 :CN117827678A ,2024-04-05
[2]
组件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李志远 ;
张斌 .
中国专利 :CN120104481A ,2025-06-06
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 .
中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 ;
张友平 ;
杨博 .
中国专利 :CN112685296A ,2021-04-20
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱捷 .
中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02
[8]
组件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨凯 .
中国专利 :CN119807039B ,2025-12-19
[9]
组件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨凯 .
中国专利 :CN119807039A ,2025-04-11
[10]
资源测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
陈立 ;
蒋珺 ;
汪承佳 .
中国专利 :CN109471805B ,2019-03-15
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