探针寿命测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420745124.8

申请日：

2014-12-02

公开(公告)号：

CN204302386U

公开(公告)日：

2015-04-29

发明(设计)人：

刘凯郭靖高凯殷岚勇

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

G01R3500

代理机构：

上海唯源专利代理有限公司 31229

代理人：

蔡沅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种探针寿命测试仪 [P].

余露 .

中国专利 :CN205679711U ,2016-11-09

[2]

继电器寿命测试仪 [P].

史文辉 ;

谢小飞 ;

徐晨祎 ;

韩旭 .

中国专利 :CN221281164U ,2024-07-05

[3]

硒鼓机械寿命测试仪 [P].

于云初 ;

魏中周 .

中国专利 :CN2906692Y ,2007-05-30

[4]

微电机寿命测试仪 [P].

贺静 ;

陈国藩 .

中国专利 :CN2746402Y ,2005-12-14

[5]

空气开关寿命测试仪 [P].

高亮 ;

郭爱军 ;

蔡明明 ;

卞永慧 .

中国专利 :CN217213042U ,2022-08-16

[6]

补偿链寿命测试仪 [P].

谭玉林 ;

罗盈 ;

王甜波 .

中国专利 :CN223295649U ,2025-09-02

[7]

温控开关寿命测试仪 [P].

甘艳芬 ;

钟君柳 .

中国专利 :CN203025324U ,2013-06-26

[8]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN206740917U ,2017-12-12

[9]

按键寿命测试仪 [P].

崔广世 ;

刘涛涛 ;

严虎哲 .

中国专利 :CN306645732S ,2021-06-29

[10]

开关寿命测试仪 [P].

肖奋 ;

黄寿生 ;

丁肖明 .

中国专利 :CN202600111U ,2012-12-12

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