一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720571017.1

申请日：

2017-05-22

公开(公告)号：

CN206740917U

公开(公告)日：

2017-12-12

发明(设计)人：

李杰于友刘世伟石坚

申请人：

申请人地址：

273200 山东省济宁市泗水县圣康路大学生创业孵化基地314房间（辰宇稀有材料）

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙) 37254

代理人：

张艳赞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN106980078A ,2017-07-25

[2]

硅片少子寿命测试仪用定位装置 [P].

王栋 ;

姜树华 ;

华万峰 .

中国专利 :CN206038840U ,2017-03-22

[3]

硅片少子寿命测试仪用定位装置 [P].

王栋 ;

姜树华 ;

华万峰 .

中国专利 :CN106124959A ,2016-11-16

[4]

一种便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN207051429U ,2018-02-27

[5]

一种少子寿命测试仪防护支撑架 [P].

杨强 ;

周宏邦 ;

张恒 ;

贾海洋 ;

娄中士 ;

王淼 ;

甄新雷 ;

罗润泽 .

中国专利 :CN216951464U ,2022-07-12

[6]

一种便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN107192936A ,2017-09-22

[7]

便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN304326814S ,2017-10-24

[8]

一种手持式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN207051430U ,2018-02-27

[9]

少子寿命测试方法 [P].

许军 ;

王沛 ;

许佳康 .

中国专利 :CN119492970A ,2025-02-21

[10]

一种太阳能电池材料少子寿命测试仪 [P].

倪祖荣 ;

陈松 ;

陈朝 ;

肖芬 ;

吕文选 .

中国专利 :CN101702004A ,2010-05-05

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