少子寿命测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411716435.6

申请日：

2024-11-27

公开(公告)号：

CN119492970A

公开(公告)日：

2025-02-21

发明(设计)人：

许军王沛许佳康

申请人：

安徽光智科技有限公司

申请人地址：

239000 安徽省滁州市琅琊经济开发区南京路100号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

长沙辰齐知壹知识产权代理事务所(普通合伙) 43290

代理人：

肖小龙

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省安庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-21	公开	公开
2025-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241127

共 50 条

[1]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN206740917U ,2017-12-12

[2]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN106980078A ,2017-07-25

[3]

晶体硅体少子寿命的测试方法 [P].

叶继春 ;

潘淼 ;

高平奇 ;

韩灿 .

中国专利 :CN104359737B ,2015-02-18

[4]

硅片少子寿命测试仪用定位装置 [P].

王栋 ;

姜树华 ;

华万峰 .

中国专利 :CN106124959A ,2016-11-16

[5]

硅片少子寿命测试仪用定位装置 [P].

王栋 ;

姜树华 ;

华万峰 .

中国专利 :CN206038840U ,2017-03-22

[6]

便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN304326814S ,2017-10-24

[7]

一种少子寿命测试仪防护支撑架 [P].

杨强 ;

周宏邦 ;

张恒 ;

贾海洋 ;

娄中士 ;

王淼 ;

甄新雷 ;

罗润泽 .

中国专利 :CN216951464U ,2022-07-12

[8]

基于高频光电导衰减法的少子寿命测试仪 [P].

桑胜田 ;

付强 ;

杨赛花 ;

王蔚 ;

刘晓为 ;

王喜莲 .

中国专利 :CN103969263A ,2014-08-06

[9]

一种便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN207051429U ,2018-02-27

[10]

一种便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN107192936A ,2017-09-22

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