硅片少子寿命测试仪用定位装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620938181.7

申请日：

2016-08-24

公开(公告)号：

CN206038840U

公开(公告)日：

2017-03-22

发明(设计)人：

王栋姜树华华万峰

申请人：

申请人地址：

214174 江苏省无锡市惠山区堰桥镇堰丰路168号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128 G01R3500

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

张海英;徐鹏飞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-22	授权	授权
2022-08-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20160824 授权公告日:20170322 终止日期:20210824

共 50 条

[1]

硅片少子寿命测试仪用定位装置 [P].

王栋 ;

姜树华 ;

华万峰 .

中国专利 :CN106124959A ,2016-11-16

[2]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN206740917U ,2017-12-12

[3]

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN106980078A ,2017-07-25

[4]

便携式半导体少子寿命测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN304326814S ,2017-10-24

[5]

一种少子寿命测试仪防护支撑架 [P].

杨强 ;

周宏邦 ;

张恒 ;

贾海洋 ;

娄中士 ;

王淼 ;

甄新雷 ;

罗润泽 .

中国专利 :CN216951464U ,2022-07-12

[6]

探针寿命测试仪 [P].

刘凯 ;

郭靖 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302386U ,2015-04-29

[7]

少子寿命测试方法 [P].

许军 ;

王沛 ;

许佳康 .

中国专利 :CN119492970A ,2025-02-21

[8]

基于高频光电导衰减法的少子寿命测试仪 [P].

桑胜田 ;

付强 ;

杨赛花 ;

王蔚 ;

刘晓为 ;

王喜莲 .

中国专利 :CN103969263A ,2014-08-06

[9]

硅片少子寿命测试用的气氛控制装置 [P].

麦耀华 ;

沈艳娇 ;

陈兵兵 ;

郭建新 ;

陈剑辉 .

中国专利 :CN206301761U ,2017-07-04

[10]

硅片偏心测试仪 [P].

张华民 ;

言利宏 ;

言红平 ;

马黎均 ;

苏宝红 .

中国专利 :CN203981101U ,2014-12-03

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