带电粒子显微镜中的枪透镜设计

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810393514.6

申请日：

2018-04-27

公开(公告)号：

CN108807120A

公开(公告)日：

2018-11-13

发明(设计)人：

A.莫哈姆马迪-格海达里 A.亨斯特拉 P.C.蒂伊梅杰 K.刘 P.多纳 G.A.施温德 G.J.范德瓦特 M.比斯乔夫

申请人：

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

H01J3726

IPC分类号：

H01J3712 H01J37143

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

王岳;申屠伟进

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/26 申请日:20180427
2018-11-13	公开	公开
2020-07-10	授权	授权

共 50 条

[1]

带电粒子显微镜中的图像处理 [P].

B.J.詹斯森 ;

A.范德海德 ;

H.罗伊文 ;

S.托马斯森 .

中国专利 :CN108878239A8 ,2018-11-23

[2]

带电粒子显微镜中的复合扫描路径 [P].

P.波托塞克 ;

C.S.库吉曼 ;

H-J.德沃斯 ;

H.N.斯林格兰德 .

中国专利 :CN105551921A ,2016-05-04

[3]

在带电粒子显微镜中检查样本的方法 [P].

I.拉兹 ;

E.G.T.博思 ;

F.博格霍贝 ;

B.布伊斯塞 ;

K.S.塞德 ;

S.拉扎 .

中国专利 :CN104865276B ,2015-08-26

[4]

透射带电粒子显微镜中的衍射图案检测 [P].

B.布依杰斯 ;

M.库吉普尔 .

中国专利 :CN109411320A ,2019-03-01

[5]

带电粒子显微镜中的低温试样处理 [P].

J.米特彻斯 ;

T.韦伊斯塔维 ;

M.卡福雷克 .

中国专利 :CN107966464A ,2018-04-27

[6]

在带电粒子显微镜中研究动态样本行为 [P].

E.R.基伊夫特 ;

W.范迪克 .

中国专利 :CN107123584A ,2017-09-01

[7]

在透射带电粒子显微镜中执行光谱术的方法 [P].

E.F.德荣格 ;

S.拉扎 ;

P.C.蒂伊梅杰 ;

R.格尔恩克 .

中国专利 :CN105405734A ,2016-03-16

[8]

在带电粒子显微镜中执行层析成像的方法 [P].

I.拉兹 ;

E.G.T.博斯 .

中国专利 :CN106057620A ,2016-10-26

[9]

扫描透射带电粒子显微镜中的智能预扫描 [P].

E.M.弗兰肯 ;

I.拉吉克 ;

B.J.詹森 .

美国专利 :CN110186943B ,2024-07-02

[10]

扫描透射带电粒子显微镜中的智能预扫描 [P].

E.M.弗兰肯 ;

I.拉吉克 ;

B.J.詹森 .

中国专利 :CN110186943A ,2019-08-30

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