内存检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211529701.5

申请日：

2022-11-30

公开(公告)号：

CN118113589A

公开(公告)日：

2024-05-31

发明(设计)人：

廖艳云刘金玉

申请人：

腾讯科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F18/22

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

张筱宁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20221130
2024-05-31	公开	公开

共 50 条

[1]

内存检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张宇昂 .

中国专利 :CN118363838A ,2024-07-19

[2]

内存存储冗余检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

黄伟武 .

中国专利 :CN110688308A ,2020-01-14

[3]

内存泄漏检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张艺林 .

中国专利 :CN110727585A ,2020-01-24

[4]

内存检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李程 ;

王成杰 ;

文宇良 ;

史世友 ;

李益 ;

周斌 ;

付建国 ;

谭磊 .

中国专利 :CN115525484B ,2025-10-24

[5]

内存检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杜博 .

中国专利 :CN120104410A ,2025-06-06

[6]

内存检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李程 ;

王成杰 ;

文宇良 ;

史世友 ;

李益 ;

周斌 ;

付建国 ;

谭磊 .

中国专利 :CN115525484A ,2022-12-27

[7]

内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P].

杨光栋 .

中国专利 :CN111966603A ,2020-11-20

[8]

内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P].

杨光栋 .

中国专利 :CN111966603B ,2024-01-19

[9]

内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P].

余玉 .

中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18

[10]

内存泄露检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苟亚明 .

中国专利 :CN111506500A ,2020-08-07

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