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电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011559074.0
申请日
:
2017-06-13
公开(公告)号
:
CN112666234B
公开(公告)日
:
2024-04-19
发明(设计)人
:
岸冈淳史
小野哲义
申请人
:
株式会社日立高新技术
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N27/26
IPC分类号
:
G01N27/30
G01N27/333
G01N27/416
G01N35/00
G01N35/10
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
:
高迪
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-19
授权
授权
共 50 条
[1]
电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
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岸冈淳史
;
小野哲义
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小野哲义
.
中国专利
:CN112666234A
,2021-04-16
[2]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
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岸冈淳史
;
小野哲义
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小野哲义
.
中国专利
:CN109416338A
,2019-03-01
[3]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
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岸冈淳史
;
三宅雅文
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三宅雅文
.
中国专利
:CN115087864A
,2022-09-20
[4]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岸冈淳史
;
三宅雅文
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
三宅雅文
.
日本专利
:CN115087864B
,2024-07-05
[5]
电解质测定装置和电解质测定方法
[P].
殿村淳朗
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殿村淳朗
.
中国专利
:CN106168599A
,2016-11-30
[6]
电解质测定装置
[P].
小泽理
论文数:
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小泽理
.
中国专利
:CN112639455A
,2021-04-09
[7]
电解质溶液浓度测定装置
[P].
金山公夫
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金山公夫
;
李相一
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李相一
;
马场弘
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马场弘
.
中国专利
:CN1163745C
,1999-03-24
[8]
电解质浓度测量装置
[P].
岸冈淳史
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岸冈淳史
;
小野哲义
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小野哲义
.
中国专利
:CN112654862A
,2021-04-13
[9]
电解质浓度测量装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岸冈淳史
;
小野哲义
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
小野哲义
.
日本专利
:CN112654862B
,2024-03-22
[10]
离子选择性电极及电解质浓度测定装置
[P].
渡部祥人
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渡部祥人
;
岸冈淳史
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岸冈淳史
;
山本遇哲
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山本遇哲
;
三宅雅文
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三宅雅文
.
中国专利
:CN113677986A
,2021-11-19
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