电解质浓度测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980046965.5

申请日：

2019-09-02

公开(公告)号：

CN112654862B

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

岸冈淳史小野哲义

申请人：

株式会社日立高新技术

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N27/26

IPC分类号：

G01N27/333 G01N27/416

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

吴克鹏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	授权	授权

共 50 条

[1]

电解质浓度测量装置 [P].

岸冈淳史 ;

小野哲义 .

中国专利 :CN112654862A ,2021-04-13

[2]

电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法 [P].

岸冈淳史 ;

小野哲义 .

中国专利 :CN112666234A ,2021-04-16

[3]

电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法 [P].

岸冈淳史 ;

小野哲义 .

日本专利 :CN112666234B ,2024-04-19

[4]

电解质浓度测定装置 [P].

岸冈淳史 ;

小野哲义 .

中国专利 :CN109416338A ,2019-03-01

[5]

电解质浓度测定装置 [P].

岸冈淳史 ;

三宅雅文 .

中国专利 :CN115087864A ,2022-09-20

[6]

电解质浓度测定装置 [P].

岸冈淳史 ;

三宅雅文 .

日本专利 :CN115087864B ,2024-07-05

[7]

电解质浓度测量方法 [P].

山本毅 ;

宫崎启司 ;

三浦淳 ;

槚户风花 ;

前田晴信 ;

田中正典 ;

深津慎 .

日本专利 :CN120981717A ,2025-11-18

[8]

微分析芯片、电解质浓度测量系统和电解质浓度测量方法 [P].

井上靖数 ;

深津慎 ;

三浦淳 ;

田中正典 ;

前田晴信 ;

榎户风花 ;

松川显久 ;

阿部克市 ;

宫崎启司 ;

山本毅 .

日本专利 :CN118339448A ,2024-07-12

[9]

电解质分析装置 [P].

岸冈淳史 ;

松下祐福 ;

三宅雅文 .

日本专利 :CN118749066A ,2024-10-08

[10]

电解质测定装置 [P].

小泽理 .

中国专利 :CN112639455A ,2021-04-09

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