电阻封装器件可靠性循环测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311470665.4
申请日
2023-11-07
公开(公告)号
CN117590109A
公开(公告)日
2024-02-23
发明(设计)人
严正
申请人
苏州贝赛检测技术有限公司
申请人地址
215331 江苏省苏州市昆山市花桥镇利胜路55号金都科创产业园A区4楼
IPC主分类号
G01R31/00
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
苏州睿翼专利代理事务所(普通合伙) 32514
代理人
杨在刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
电阻封装器件可靠性循环测试装置 [P]. 
严正 .
中国专利 :CN117590109B ,2024-07-05
[2]
封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119827940B ,2025-07-04
[3]
封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119827940A ,2025-04-15
[4]
发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法 [P]. 
徐华伟 ;
苏萌 ;
黄林轶 ;
彭琦 ;
胡坚耀 ;
陈玉明 ;
刘群兴 .
中国专利 :CN108332949A ,2018-07-27
[5]
微波器件可靠性测试装置 [P]. 
李亮 ;
默江辉 ;
崔玉兴 ;
付兴昌 ;
蔡树军 ;
杨克武 .
中国专利 :CN204142865U ,2015-02-04
[6]
高可靠性器件的测试装置 [P]. 
唐兴军 ;
王亚 .
中国专利 :CN217425588U ,2022-09-13
[7]
门扇可靠性测试装置 [P]. 
袁祺 .
中国专利 :CN208780440U ,2019-04-23
[8]
可靠性测试装置 [P]. 
颜菁 ;
聂贻孝 ;
闵旺 .
中国专利 :CN308518697S ,2024-03-19
[9]
功率器件的可靠性测试电路及测试装置 [P]. 
叶忠 ;
杨海龙 .
中国专利 :CN120522537A ,2025-08-22
[10]
芯片可靠性测试装置及方法 [P]. 
钟昊 ;
陈君良 ;
张栋 ;
郑雷 .
中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20