发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810060240.9

申请日：

2018-01-22

公开(公告)号：

CN108332949A

公开(公告)日：

2018-07-27

发明(设计)人：

徐华伟苏萌黄林轶彭琦胡坚耀陈玉明刘群兴

申请人：

申请人地址：

510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

余永文

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-15	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01M 11/02 变更事项:申请人变更前:中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））变更后:中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））变更事项:地址变更前:510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号变更后:511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
2021-04-30	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20180727
2018-07-27	公开	公开
2018-08-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180122

共 50 条

[1]

测试箱和可靠性测试装置 [P].

孙苹 .

中国专利 :CN103424236A ,2013-12-04

[2]

电阻封装器件可靠性循环测试装置 [P].

严正 .

中国专利 :CN117590109A ,2024-02-23

[3]

电阻封装器件可靠性循环测试装置 [P].

严正 .

中国专利 :CN117590109B ,2024-07-05

[4]

微波器件可靠性测试装置 [P].

李亮 ;

默江辉 ;

崔玉兴 ;

付兴昌 ;

蔡树军 ;

杨克武 .

中国专利 :CN204142865U ,2015-02-04

[5]

微波器件可靠性测试装置及其测试方法 [P].

李亮 ;

默江辉 ;

崔玉兴 ;

付兴昌 ;

蔡树军 ;

杨克武 .

中国专利 :CN104237707B ,2014-12-24

[6]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[7]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851A ,2021-05-18

[8]

功率器件的可靠性测试电路及测试装置 [P].

叶忠 ;

杨海龙 .

中国专利 :CN120522537A ,2025-08-22

[9]

门扇可靠性测试装置 [P].

袁祺 .

中国专利 :CN208780440U ,2019-04-23

[10]

可靠性测试装置 [P].

颜菁 ;

聂贻孝 ;

闵旺 .

中国专利 :CN308518697S ,2024-03-19

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