氧化膜的原子层沉积方法

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专利类型
发明
申请号
CN202111644529.3
申请日
2021-12-30
公开(公告)号
CN114836730B
公开(公告)日
2024-01-02
发明(设计)人
何亚东 刘力挽 王伟哲 稂耘 王新胜
申请人
长江存储科技有限责任公司
申请人地址
430074 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区未来三路88号
IPC主分类号
C23C16/40
IPC分类号
C23C16/455
代理机构
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人
岳丹丹
法律状态
授权
国省代码
河北省 石家庄市
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共 50 条
[1]
氧化膜的原子层沉积方法 [P]. 
何亚东 ;
刘力挽 ;
王伟哲 ;
稂耘 ;
王新胜 .
中国专利 :CN114836730A ,2022-08-02
[2]
原子层沉积膜制备方法及原子层沉积设备 [P]. 
陈蓉 ;
叶容利 ;
曹坤 ;
单斌 ;
王威振 .
中国专利 :CN119121187A ,2024-12-13
[3]
碳膜的原子层沉积 [P]. 
阿德里安·拉沃伊 .
美国专利 :CN112005339B ,2025-04-15
[4]
碳膜的原子层沉积 [P]. 
阿德里安·拉沃伊 .
中国专利 :CN112005339A ,2020-11-27
[5]
碳膜的原子层沉积 [P]. 
阿德里安·拉沃伊 .
美国专利 :CN120497125A ,2025-08-15
[6]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
刘良文 ;
闫晓晖 ;
拉海忠 .
中国专利 :CN119800330A ,2025-04-11
[7]
原子层沉积方法和原子层沉积设备 [P]. 
古尔特基·S·桑赫 ;
特鲁格·特里·多恩 .
中国专利 :CN100346448C ,2005-10-26
[8]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
郭世根 ;
项金娟 ;
刘青 .
中国专利 :CN114351116B ,2024-12-31
[9]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
郭世根 ;
项金娟 ;
刘青 .
中国专利 :CN114351116A ,2022-04-15
[10]
原子层沉积装置和原子层沉积方法 [P]. 
龟田直人 ;
三浦敏德 ;
花仓满 .
中国专利 :CN114286875A ,2022-04-05