一种芯片检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322139236.0

申请日：

2023-08-09

公开(公告)号：

CN220574065U

公开(公告)日：

2024-03-12

发明(设计)人：

张承禹龙际虎盛积志

申请人：

深圳市兴明光机器人股份有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市宝安区松岗街道东方社区蚌岗路67号51栋101

IPC主分类号：

B07C5/02

IPC分类号：

B07C5/34 B07C5/36

代理机构：

天津智行知识产权代理有限公司 12245

代理人：

潘有礼

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片外观缺陷检测设备 [P].

许培元 .

中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10

[2]

一种芯片电容器检测设备 [P].

吴浩 ;

谢华 ;

车瑞飞 ;

辛广兴 ;

陈松磨 .

中国专利 :CN212652205U ,2021-03-05

[3]

一种芯片电容器检测设备 [P].

吴浩 ;

谢华 ;

车瑞飞 ;

辛广兴 ;

陈松磨 .

中国专利 :CN112007868B ,2025-08-19

[4]

一种芯片电容器检测设备 [P].

吴浩 ;

谢华 ;

车瑞飞 ;

辛广兴 ;

陈松磨 .

中国专利 :CN112007868A ,2020-12-01

[5]

一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其检测方法 [P].

王孟哲 ;

梁正南 ;

赖勉力 ;

李恩全 .

中国专利 :CN116441193B ,2025-07-08

[6]

一种双通道芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 .

中国专利 :CN113433070B ,2021-09-24

[7]

一种芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 ;

梁永鑫 .

中国专利 :CN113466255B ,2021-10-01

[8]

芯片视觉检测设备 [P].

叶明华 .

中国专利 :CN216174313U ,2022-04-05

[9]

一种检测设备 [P].

阮水安 ;

王义勇 ;

赵娅娟 ;

韦武光 ;

吴胜 .

中国专利 :CN114192424A ,2022-03-18

[10]

一种检测设备 [P].

阮水安 ;

王义勇 ;

赵娅娟 ;

韦武光 ;

吴胜 .

中国专利 :CN114192424B ,2024-06-11

← 1 2 3 4 5 →