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一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310539739.9
申请日：
2023-05-15
公开(公告)号：
CN116441193B
公开(公告)日：
2025-07-08
发明(设计)人：
王孟哲 梁正南 赖勉力 李恩全
申请人：
嘉兴九纵智能科技有限公司
申请人地址：
314515 浙江省嘉兴市桐乡市高桥街道（开发区）悦明路89号视觉物联创新中心6号楼（原测绘7号厂房）201室
IPC主分类号：
B07C5/34
IPC分类号：
G01N21/892 B07C5/02 B07C5/36
代理机构：
合肥初航知识产权代理事务所(普通合伙) 34171
代理人：
金娟娟
法律状态：
著录事项变更
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-08 著录事项变更 著录事项变更IPC(主分类):B07C 5/34变更事项:申请人变更前:宁波九纵智能科技有限公司变更后:嘉兴九纵智能科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:315300 浙江省宁波市慈溪市白沙路街道三北大街2588号B幢8楼803室变更后:314515 浙江省嘉兴市桐乡市高桥街道（开发区）悦明路89号视觉物联创新中心6号楼（原测绘7号厂房）201室
2025-07-08 授权 授权
共 50 条
[1]
一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其上料装置 [P]. 
王孟哲 ;
梁正南 ;
赖勉力 ;
李恩全 ;
刘文义 .
中国专利 :CN223032108U ,2025-06-27
[2]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
许培元 .
中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10
[3]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106A ,2022-03-01
[4]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106B ,2024-05-14
[5]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114113108A ,2022-03-01
[6]
一种芯片端面缺陷检测机构及外观缺陷检测设备 [P]. 
王珲荣 ;
肖鹏 ;
罗成钢 ;
雷飞鹏 .
中国专利 :CN121207863A ,2025-12-26
[7]
外观缺陷检测设备及其检测方法 [P]. 
陈祖华 ;
袁璐奇 .
中国专利 :CN114113125B ,2025-01-17
[8]
外观缺陷检测设备及其检测方法 [P]. 
陈祖华 ;
袁璐奇 .
中国专利 :CN114113125A ,2022-03-01
[9]
一种外观缺陷检测方法和外观缺陷检测设备 [P]. 
李玉惠 ;
靳习永 ;
李会富 ;
谢学智 ;
张富强 ;
闫华锋 .
中国专利 :CN117347368A ,2024-01-05
[10]
电镀件外观检测设备及其检测系统 [P]. 
李紫宸 ;
吕雨菡 ;
陈兴悦 ;
聂铭遥 .
中国专利 :CN119959145A ,2025-05-09
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