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一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其上料装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421900821.6
申请日：
2024-08-07
公开(公告)号：
CN223032108U
公开(公告)日：
2025-06-27
发明(设计)人：
王孟哲 梁正南 赖勉力 李恩全 刘文义
申请人：
南通九纵智能科技有限公司
申请人地址：
226010 江苏省南通市崇川区开发区崇州大道60号紫琅科技城11B号楼3层众创空间D区
IPC主分类号：
B65G43/08
IPC分类号：
B65G47/82 B65G47/91
代理机构：
合肥初航知识产权代理事务所(普通合伙) 34171
代理人：
金娟娟
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-27 授权 授权
共 50 条
[1]
一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其检测方法 [P]. 
王孟哲 ;
梁正南 ;
赖勉力 ;
李恩全 .
中国专利 :CN116441193B ,2025-07-08
[2]
一种芯片端面缺陷检测机构及外观缺陷检测设备 [P]. 
王珲荣 ;
肖鹏 ;
罗成钢 ;
雷飞鹏 .
中国专利 :CN121207863A ,2025-12-26
[3]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
许培元 .
中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10
[4]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106A ,2022-03-01
[5]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114113108A ,2022-03-01
[6]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106B ,2024-05-14
[7]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
陶雪峰 ;
郑超 .
中国专利 :CN118763049B ,2025-01-03
[8]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
陶雪峰 ;
郑超 .
中国专利 :CN118763049A ,2024-10-11
[9]
电镀件外观检测设备及其检测系统 [P]. 
李紫宸 ;
吕雨菡 ;
陈兴悦 ;
聂铭遥 .
中国专利 :CN119959145A ,2025-05-09
[10]
电镀件外观检测设备及其检测系统 [P]. 
吴嘉杰 .
中国专利 :CN116500049B ,2024-02-23
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