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一种芯片端面缺陷检测机构及外观缺陷检测设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511432542.0
申请日：
2025-10-09
公开(公告)号：
CN121207863A
公开(公告)日：
2025-12-26
发明(设计)人：
王珲荣 肖鹏 罗成钢 雷飞鹏
申请人：
湖南奥创普科技有限公司
申请人地址：
410205 湖南省长沙市高新开发区岳麓西大道588号芯城科技园2栋7楼7011房
IPC主分类号：
G01N21/01
IPC分类号：
G01N21/88
代理机构：
北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613
代理人：
李丹丹
法律状态：
公开
国省代码：
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-26 公开 公开
共 50 条
[1]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106A ,2022-03-01
[2]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114101106B ,2024-05-14
[3]
一种外观缺陷检测设备 [P]. 
陆彩光 .
中国专利 :CN114113108A ,2022-03-01
[4]
外观缺陷检测设备 [P]. 
张听荣 ;
胡益旻 ;
武新文 .
中国专利 :CN223513121U ,2025-11-04
[5]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
陶雪峰 ;
郑超 .
中国专利 :CN118763049B ,2025-01-03
[6]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
许培元 .
中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10
[7]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
陶雪峰 ;
郑超 .
中国专利 :CN118763049A ,2024-10-11
[8]
一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其检测方法 [P]. 
王孟哲 ;
梁正南 ;
赖勉力 ;
李恩全 .
中国专利 :CN116441193B ,2025-07-08
[9]
一种外观缺陷检测方法和外观缺陷检测设备 [P]. 
李玉惠 ;
靳习永 ;
李会富 ;
谢学智 ;
张富强 ;
闫华锋 .
中国专利 :CN117347368A ,2024-01-05
[10]
光电板外观缺陷检测设备 [P]. 
侯晓峰 ;
朱磊 ;
张弛 .
中国专利 :CN117388275A ,2024-01-12
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