半导体芯片测控装置、方法及量子计算机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211359434.1
申请日
2022-11-02
公开(公告)号
CN118033389A
公开(公告)日
2024-05-14
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请人地址
230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号
G01R31/317
IPC分类号
G01R31/3181 G01R31/319 G06N10/20
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体芯片测控仪器的控制方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117991669A ,2024-05-07
[2]
半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机 [P]. 
张辉 ;
石汉卿 ;
侯需要 ;
祝朗 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN115511097A ,2022-12-23
[3]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184B ,2024-06-14
[4]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184A ,2022-11-29
[5]
量子芯片及量子计算机 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN115249070B ,2023-01-03
[6]
半导体量子芯片的测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN220526355U ,2024-02-23
[7]
一种量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN120875062A ,2025-10-31
[8]
一种量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN120875063A ,2025-10-31
[9]
一种量子芯片及量子计算机 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN115438795A ,2022-12-06
[10]
一种量子芯片及量子计算机 [P]. 
张辉 ;
李松 ;
李业 ;
贾健豪 .
中国专利 :CN217982407U ,2022-12-06