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半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机

被引：0
申请号：
CN202211461306.8
申请日：
2022-11-18
公开(公告)号：
CN115511097A
公开(公告)日：
2022-12-23
发明(设计)人：
张辉 石汉卿 侯需要 祝朗 孔伟成
申请人：
申请人地址：
230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号：
G06N1070
IPC分类号：
G06N1040
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-01-10 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06N 10/70 申请日:20221118
2022-12-23 公开 公开
共 50 条
[1]
半导体量子芯片的测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN220526355U ,2024-02-23
[2]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119535140A ,2025-02-28
[3]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119716439B ,2025-11-18
[4]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119716440A ,2025-03-28
[5]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119716439A ,2025-03-28
[6]
半导体芯片测控装置、方法及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118033389A ,2024-05-14
[7]
量子测控系统及量子计算机 [P]. 
赵勇杰 .
中国专利 :CN223450424U ,2025-10-17
[8]
量子测控线路、量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN221149359U ,2024-06-14
[9]
集成式量子测控线路、量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN222462081U ,2025-02-11
[10]
量子测控系统以及量子计算机 [P]. 
孔伟成 ;
赵勇杰 .
中国专利 :CN115902571B ,2024-04-05
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