半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311280539.2
申请日
2023-09-28
公开(公告)号
CN119716439A
公开(公告)日
2025-03-28
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名 孔伟成
申请人
本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请人地址
230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
G01R19/00 G06N10/40 G06N10/20
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119716439B ,2025-11-18
[2]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119716440A ,2025-03-28
[3]
半导体量子点的测量方法、测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN119535140A ,2025-02-28
[4]
半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机 [P]. 
张辉 ;
石汉卿 ;
侯需要 ;
祝朗 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN115511097A ,2022-12-23
[5]
半导体量子芯片的测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN220526355U ,2024-02-23
[6]
量子比特频率的测量方法、量子测控系统及量子计算机 [P]. 
孔伟成 ;
石汉卿 ;
宋垚 ;
方双胜 .
中国专利 :CN115902389B ,2024-04-05
[7]
量子测控系统及量子计算机 [P]. 
赵勇杰 .
中国专利 :CN223450424U ,2025-10-17
[8]
半导体量子点器件和计算机 [P]. 
孔伟成 ;
张辉 ;
赵勇杰 .
中国专利 :CN214378455U ,2021-10-08
[9]
量子测控线路、量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN221149359U ,2024-06-14
[10]
集成式量子测控线路、量子计算测控系统及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN222462081U ,2025-02-11