一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010329717.6

申请日：

2020-04-24

公开(公告)号：

CN111510068B

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

包杰陈程黄策乔振聪刘志锋陈嘉林建伟

申请人：

泰州中来光电科技有限公司

申请人地址：

225500 江苏省泰州市姜堰经济开发区开阳路6号

IPC主分类号：

H02S50/10

IPC分类号：

G01R27/08 G01R31/389

代理机构：

北京金之桥知识产权代理有限公司 11137

代理人：

李托弟

法律状态：

授权

国省代码：

河北省衡水市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法 [P].

包杰 ;

陈程 ;

黄策 ;

乔振聪 ;

刘志锋 ;

陈嘉 ;

林建伟 .

中国专利 :CN111510068A ,2020-08-07

[2]

一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法 [P].

包杰 ;

马丽敏 ;

黄策 ;

乔振聪 ;

刘志锋 ;

陈嘉 ;

林建伟 .

中国专利 :CN111403306B ,2020-07-10

[3]

探针间距校准方法、接触电阻率和界面电阻率的测试方法 [P].

胡晓凯 .

中国专利 :CN111487465B ,2020-08-04

[4]

接触电阻率的测量方法及装置 [P].

崔会英 ;

蒋硕 ;

仲崇娇 ;

钱亮 ;

嵇友谊 ;

钱晟浩 .

中国专利 :CN106298570A ,2017-01-04

[5]

一种接触电阻率和沟道迁移率的测试结构和测试方法 [P].

陈施施 ;

张新河 ;

杨安丽 ;

温正欣 ;

高博 ;

张国旗 .

中国专利 :CN111106093B ,2020-05-05

[6]

异质结电池接触电阻率的测量方法 [P].

李宏伟 ;

姜倩倩 ;

胡匀匀 ;

孟子博 ;

杨广涛 .

中国专利 :CN119395381A ,2025-02-07

[7]

一种钝化接触的接触电阻测试结构的制备工艺及测试结构 [P].

林文杰 ;

邱开富 ;

倪文虎 ;

吴宜尚 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN114823980A ,2022-07-29

[8]

一种钝化接触的接触电阻测试结构的制备工艺及测试结构 [P].

林文杰 ;

邱开富 ;

倪文虎 ;

吴宜尚 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN114823980B ,2024-07-30

[9]

导电胶与金属电极的接触电阻率的测试方法 [P].

梅玲 ;

闫新春 ;

吕瑞瑞 ;

许涛 .

中国专利 :CN113759176A ,2021-12-07

[10]

电极套印网版及电极接触电阻率的测试方法 [P].

李兵 ;

邓伟伟 .

中国专利 :CN112721416B ,2021-04-30

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